作为这个星球上被制造和被使用最多的数字接口，USB自有其工程上的过人之处，也有其简洁优雅之美。由于USB协会和芯片厂商的做出的大量努力，硬件系统设计者得以不必专职关注USB接口的设计测试和认证，所以遇到问题的时候往往会感觉其现象缺少相关性和充满不确定性，失之于系统理解USB架构的简洁严谨，so，带着你的问题来现场吧，一起debug！
时间：2016年12月10日 13:30——16:00（摩尔吧同步直播）
地点：苏州市工业园区仁爱路99号D1座201室摩尔吧孵化器（点击报名线下活动）
主讲内容：
1.USB2.0 compliance test introduction
2.USB2.0 Electrical test report解读
3.USB-IF认证项目之外的USB2.0测试
4.USB3.0 compliance test introduction
5.USB3.0 Electrical test report解读
6.USB2.0/3.0 interoperability test解读
7.BUG分析1：USB2.0 eye fail
8.BUG分析2：USB2.0 enumeration random fail
9.TypeC 接口介绍
10.现场提问及讨论环节
主讲嘉宾：
刘冲
东南大学硕士，曾在某科研机构从事系统工程师工作，后进入瑞晟微电子（苏州）有限公司，任高级硬件工程师，主要从事USB相关IC产品的开发，曾撰写申请了USB方面的三个专利。负责过USB芯片产品开发相关的平台设计、相关IC验证方案设计及实操、USB-IF认证、USB相容性测试、相关IC稳定性/一致性自动化测试设计、相关IC量产测试设计、相关IC封装设计。撰写了相关IC的Datasheet，user manual，test report文档。
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