从全局出发,介绍:
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
来自【爱芯人/QQ群187291154】
从全局出发,介绍:
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
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器件型号 | 数量 | 器件厂商 | 器件描述 | 数据手册 | ECAD模型 | 风险等级 | 参考价格 | 更多信息 |
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MPXV5010DP | 1 | Freescale Semiconductor | DIFFERENTIAL, PEIZORESISTIVE PRESSURE SENSOR, 0-1.45Psi, 5%, 0.20-4.70V, SQUARE, SURFACE MOUNT, PLASTIC, SOP-8 |
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$18.38 | 查看 | |
LM35CAZ/NOPB | 1 | Texas Instruments | 1C high voltage analog temperature sensor, 10 mV/C 3-TO-92 -40 to 110 |
ECAD模型 下载ECAD模型 |
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$6.1 | 查看 | |
AD7414ARTZ-1500RL7 | 1 | Rochester Electronics LLC | Serial Switch/Digital Sensor, 10 Bit(s), 3Cel, Rectangular, Surface Mount, PLASTIC, MO-178AB, SOT-23, 6 PIN |
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$2.7 | 查看 |