当大数据、移动互联成为时代热点，没有什么能够阻挡它们为电子行业带来的光芒与期望! 新时代的测试测量所承载的不仅是硬件、软件与服务，更应围绕热门应用与方向，提供实用而高效的完整解决方案。

跨入2016年，泰克面对客户的诸多测试需求准备了一系列热门应用方案，话题跨度从产业到科研，应用方案从旗舰到主流、从时域到频域、从全新产品到技术升级，泰克将在全国超过10地与您相遇。江苏的小伙伴们，相约苏州，来吗？

时间：2016年10月21日09:00~15:45

地点：苏州万怡酒店-宴会厅A（苏州工业园区星海街188号）

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09:00-09:30 签到

09:30-10:15 100Gbps光电高速传输检测

大数据时代中,负责数据传输以及储存的数据中心(DataCenter)日益的发展及精进，无论是Google, Facebook还是Amazon，纷纷建造并扩张所属的数据中心。

本课程将带您一探数据中心的组成结构及传输接口的相对应测试，解决方案等 。

10:15-11:00 高速电路板阻抗,S参数及信号性分析

在高速电路的应用上，越来越突显模拟特性的重要性。您想知道如何在数字设计中掌握设计关键？本课程将以TDR测试为主题，着重如何将TDR应用在时域阻抗测量及线路Modeling挑战外,亦可以同时搭配iConnect的软件实现频域S参数的复杂网络分析，使您成为高手!

11:00-13:00 午餐

13:00-14:00 最新半导体器件测试技术与Keithley解决方案分享

当新材料新器件的科研如火如荼的进行同时, 研发与投产的周期越来越短. 仿真与测试都遇到了很大的挑战. 高性能, 高功率, 高速度与低功耗等各种对测试近乎苛刻的要求都为测试测量行业提出新的命题.

Keithley已于近日推出最新半导体特性分析仪4200A. 专题将从直流测试测量知识入手，举例说明最新4200A是如何减少研发测试人员的learning cycle, 提高工作效率, 使测试工作更轻松简单.其中也涵盖了对基本器件特性测试，晶圆级可靠性测试（WLR）以及功率半导体测试的解决方案。

14:00-14:30 茶歇

14:30-15:30 USBType-C通用串行接口测试总览

TypeC接口的引进和使用多个高需求的序列标准的实作已为开发人员创造各种新的挑战；不论是新的兼容性信道的要求，或是模式切换和处理跨多个序列标准的兼容性规格。我们将探讨最新的 Type-C 规格更新、涉及 USB3.1、DisplayPort 和 Thunderbolt标准......包括电力输送。本次会议将提供有关TypeC接口的背景知识、在多个标准中如何使用，并探索相关的解决方案，以解决有关发射器、接收器和电力输送验证的各种新挑战。

15:30-15:45 幸运抽奖

现场参会人员均有机会获得精美礼品，携带名片即可参与抽奖，精美礼品等您来拿！