美国国家仪器NI半导体系列上海研讨会

2016/11/24 13:00 - 2016/11/24 17:00

上海市上海浦东新区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡,近地铁2号线张江高科站5号口(祖冲之路松涛路)

不限参加人数

美国国家仪器NI半导体系列上海研讨会

2016/11/24 13:00 - 2016/11/24 17:00

上海市上海浦东新区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡,近地铁2号线张江高科站5号口(祖冲之路松涛路)

不限参加人数

活动介绍


引言:

在物联网时代背景下,智能家居、可穿戴设备以及车联网等领域均被行业圈子推向了高潮。如今各大领域技术几近成熟,各类应用也逐步普及,科技生活已近在咫尺!


那么问题来了,物联网发展如此之快的推手是谁?相信非无线通信技术的快速发展是基本要素,撇开各大国际半导体厂商的肉搏之战不说,广大群众的生活已经离不开蓝牙、WiFi等无线连接技术。因此,这其中商机不容小觑,国内厂商如何把握市场机遇呢?如何设计优秀智能产品?本次活动资深专家将以市场、技术两大方向为你解答疑惑。


嘉宾介绍

(具体嘉宾信息将逐步更新)

-芯片设计工程师及部门主管

-芯片测试工程师及部门主管

-Verification 及 Qualification 部门工程师

-其他IC业内人士


演讲主题

1.实验室到量产——物联网背景下半导体测试总体成本的优化

2.蓝牙低功耗测试方案及案例

3.基于向量的数字通道板卡使用技巧

4.灵活开发NISMU完成源表测试挑战


Demo演示:

1.PatternBasedDigital+5171FlawDetection

2.BLETestingDemo


活动主办方:美国国家仪器


美国国家仪器,世界上最大领先的硬件电子测试测量仪器公司。提供丰富的工具软件,如LabVIEW,AWR,以及高性价比的模块化硬件,覆盖IC从研发到量产的全产业链测试与仿真需求。40多年来,美国国家仪器公司(NI)帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战,提供大量的软件,硬件,覆盖IC全产业链测试与仿真需求。在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今,NI为遍布全球各地的35,000家不同的客户提供多种应用选择,在RF芯片设计和测试方面具有丰富的经验和专业知识。


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