11.24 上海丨美国国家仪器NI半导体系列上海研讨会(II)

2016/11/24 13:00 - 2016/11/24 17:30

上海市浦东新区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡,近地铁2号线张江高科站5号口(祖冲之路松涛路)

不限参加人数

11.24 上海丨美国国家仪器NI半导体系列上海研讨会(II)

2016/11/24 13:00 - 2016/11/24 17:30

上海市浦东新区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡,近地铁2号线张江高科站5号口(祖冲之路松涛路)

不限参加人数

活动介绍


嘉宾介绍

(具体嘉宾信息将逐步更新)

-芯片设计工程师及部门主管

-芯片测试工程师及部门主管

-Verification 及 Qualification 部门工程师

-其他IC业内人士


演讲主题

1.实验室到量产——物联网背景下半导体测试总体成本的优化

2.蓝牙低功耗测试方案及案例

3.基于向量的数字通道板卡使用技巧

4.灵活开发NISMU完成源表测试挑战


Demo演示:

1.PatternBasedDigital+5171FlawDetection

2.BLETestingDemo


活动主办方:美国国家仪器



美国国家仪器,世界上最大领先的硬件电子测试测量仪器公司。提供丰富的工具软件,如LabVIEW,AWR,以及高性价比的模块化硬件,覆盖IC从研发到量产的全产业链测试与仿真需求。40多年来,美国国家仪器公司(NI)帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战,提供大量的软件,硬件,覆盖IC全产业链测试与仿真需求。在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今,NI为遍布全球各地的35,000家不同的客户提供多种应用选择,在RF芯片设计和测试方面具有丰富的经验和专业知识。


联合主办:



活动详情

【时间】:2016年11月24日,13:00-17:30

【地点】:上海浦东新区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡,近地铁2号线张江高科站5号口(祖冲之路松涛路)

【路线】:地铁2号线5号口出,穿过“黑暗料理小吃”,传奇广场坐电梯到3楼即达(交通银行和中国银行之间);自驾,松涛路路口进,1楼三和面馆旁电梯上

【费用】:免费(提供茶歇)

【报名】:点击下方"阅读原文"即可参与报名


注:活动限半导体行业相关工作人员参加(限额80人),因主办方将进行人员筛选,请认真填写报名信息,信息填写不完整及行业属性不相关者,不在邀请范围内,请悉知。入场请出示通知短信并携带名片。


附:IC咖啡近期活动一览(猛戳我!)

IC CHINA 2016.11.8-11.10 -- IC咖啡展会现场沙龙活动预告(附赠免费门票及现场咖啡兑换券)



11月10日 南京丨MIT先进科技对话系列之集成电路专场

11月17日 上海丨加密工程: 在硬件和嵌入式软件中植入高速和安全的加密系统

11月19日 上海丨第八届IC测试技术研讨会火热报名中

11月24日 上海丨美国国家仪器NI半导体系列上海研讨会(II)

12月02日 北京丨全球传感器与智能化发展高峰论坛 · 邀请函


活动标签

活动地图

上海市浦东新区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡,近地铁2号线张江高科站5号口(祖冲之路松涛路)