详解USB接口验证的那些坑,带着你的问题来现场Debug

2016/12/10 13:30 - 2016/12/10 16:00

江苏省苏州市仁爱路99号D座201室

不限参加人数

报名截止时间:2016/12/10 16:00

详解USB接口验证的那些坑,带着你的问题来现场Debug

2016/12/10 13:30 - 2016/12/10 16:00

江苏省苏州市仁爱路99号D座201室

不限参加人数

报名截止时间:2016/12/10 16:00

活动票种

免费 普通票

活动介绍

作为这个星球上被制造和被使用最多的数字接口,USB自有其工程上的过人之处,也有其简洁优雅之美。由于USB协会和芯片厂商的做出的大量努力,硬件系统设计者得以不必专职关注USB接口的设计测试和认证,所以遇到问题的时候往往会感觉其现象缺少相关性和充满不确定性,失之于系统理解USB架构的简洁严谨,so,带着你的问题来现场吧,一起debug!


时间:2016年12月10日 13:30——16:00

地点:苏州市工业园区仁爱路99号D1座201室摩尔吧孵化器

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主讲内容:

1.USB2.0 compliance test introduction

2.USB2.0 Electrical test report解读

3.USB-IF认证项目之外的USB2.0测试

4.USB3.0 compliance test introduction

5.USB3.0 Electrical test report解读

6.USB2.0/3.0 interoperability test解读

7.BUG分析1:USB2.0 eye fail

8.BUG分析2:USB2.0 enumeration random fail

9.TypeC 接口介绍

10.现场提问及讨论环节


主讲嘉宾:

刘冲

东南大学硕士,曾在某科研机构从事系统工程师工作,后进入瑞晟微电子(苏州)有限公司,任高级硬件工程师,主要从事USB相关IC产品的开发,曾撰写申请了USB方面的三个专利。负责过USB芯片产品开发相关的平台设计、相关IC验证方案设计及实操、USB-IF认证、USB相容性测试、相关IC稳定性/一致性自动化测试设计、相关IC量产测试设计、相关IC封装设计。撰写了相关IC的Datasheet,user manual,test report文档。


在线直播:

http://www.moore8.com/courses/1283


活动咨询:

QQ:857827273



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