引言:测试是IC设计的重要环节,精确的测试结果,快速的Debug方法,直接决定了芯片Time-To-Market的效率。IC咖啡携手美国国家仪器National Instruments准备了一系列芯片测试的新玩法,带你玩转IC测试。Digital IC、Analog IC、RF IC, 各位IC designer奋斗在设计一线,不断的设计出速度更快、功耗更低、面积更小的芯片。 每一次流片回来,高强度的测试任务,对于测试工程师及IC设计师来讲,都是最为心情跌宕起伏的时刻:仿真很“丰满”,测试很“骨感”。演讲主题:1.平台化方法降低IC测试成本及上市时间:随着IC集成度日益提高,行业整合和全球竞争