活动主题【主题】《共模电感的插入损耗与EMI滤波》9月16日 (周日)14:00--16:00【内容简介】本次沙龙揭秘EMI滤波技术中的关键测试:滤波器和器件的插入损耗(简称“插损”)测试。基于国标GB/T 7343和CISPR 17国际标准,介绍如何测试滤波器和共模插损和差模插损,进一步介绍如何对共模电感和差模电感进行插损测试,最后讲解器件的插损测试与电子产品的EMI性能的对应影响。【主讲人】:黄敏超 博士正远EMC整改及培训中心 创始人中国电源学会电磁兼容专家委员会委员IEEE会员上海电源学会副秘书长中国电源学会理事现担多家企业的长期技术顾问,帮助诸多企业提供电磁兼容解决方案和可靠性解决方