从全局出发,介绍:
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
来自【爱芯人/QQ群187291154】
从全局出发,介绍:
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
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器件型号 | 数量 | 器件厂商 | 器件描述 | 数据手册 | ECAD模型 | 风险等级 | 参考价格 | 更多信息 |
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ADT7470ARQZ-REEL7 | 1 | Analog Devices Inc | Temperature Sensor Hub and Fan Controller |
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$4.29 | 查看 | |
MS561101BA03-50 | 1 | TE Connectivity | (MS561101BA03-50) MS5611 BAROMETRIC SENSOR CM T&R |
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$10.49 | 查看 | |
ISM330DHCXTR | 1 | STMicroelectronics | iNEMO inertial module with Machine Learning Core, Finite State Machine with digital output for industrial applications. |
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$11.82 | 查看 |