引言：

在物联网时代背景下，智能家居、可穿戴设备以及车联网等领域均被行业圈子推向了高潮。如今各大领域技术几近成熟，各类应用也逐步普及，科技生活已近在咫尺！

那么问题来了，物联网发展如此之快的推手是谁？相信非无线通信技术的快速发展是基本要素，撇开各大国际半导体厂商的肉搏之战不说，广大群众的生活已经离不开蓝牙、WiFi等无线连接技术。因此，这其中商机不容小觑，国内厂商如何把握市场机遇呢？如何设计优秀智能产品？本次活动资深专家将以市场、技术两大方向为你解答疑惑。

嘉宾介绍

（具体嘉宾信息将逐步更新）

-芯片设计工程师及部门主管

-芯片测试工程师及部门主管

-Verification 及 Qualification 部门工程师

-其他IC业内人士

演讲主题

1.实验室到量产——物联网背景下半导体测试总体成本的优化

2.蓝牙低功耗测试方案及案例

3.基于向量的数字通道板卡使用技巧

4.灵活开发NISMU完成源表测试挑战

Demo演示：

1.PatternBasedDigital+5171FlawDetection

2.BLETestingDemo

活动主办方：美国国家仪器

美国国家仪器，世界上最大领先的硬件电子测试测量仪器公司。提供丰富的工具软件，如LabVIEW，AWR，以及高性价比的模块化硬件，覆盖IC从研发到量产的全产业链测试与仿真需求。40多年来，美国国家仪器公司(NI)帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战，提供大量的软件，硬件，覆盖IC全产业链测试与仿真需求。在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今，NI为遍布全球各地的35,000家不同的客户提供多种应用选择，在RF芯片设计和测试方面具有丰富的经验和专业知识。