引言：

测试是IC设计的重要环节，精确的测试结果，快速的Debug方法，直接决定了芯片Time-To-Market的效率。IC咖啡携手美国国家仪器National Instruments准备了一系列芯片测试的新玩法，带你玩转IC测试。

Digital IC、Analog IC、RF IC， 各位IC designer奋斗在设计一线，不断的设计出速度更快、功耗更低、面积更小的芯片。 每一次流片回来，高强度的测试任务，对于测试工程师及IC设计师来讲，都是最为心情跌宕起伏的时刻：仿真很“丰满”，测试很“骨感”。

演讲主题：

1.平台化方法降低IC测试成本及上市时间：

随着IC集成度日益提高，行业整合和全球竞争的加剧，IC工程师面临着巨大的开发成本和上市时间的压力。不幸的是，实验室和量产测试中的ATE系统使用传统仪器的方法不能进行扩展满足到当今IC产业不断变化的需求，在成本和上市时间上带来商业风险。在本演讲中，我们将介绍基于平台的方法是如何提升IC验证分析速度和测试设备性能，满足制造成本和可靠性的需求。

2.从实验室到量产——NI RFIC测试方案：

在此演讲中，将探讨基于PXI平台和矢量信号收发仪VST，您可以轻松应对当前复杂且技术更新很快的RFIC测试，以及NI平台如何打通从实验室到量产测试的RFIC测试方案。

3.解读构建SLT(System Level Test)的新软件架构：

随着IC集成度的巨大提升，SiP等的封装形式的出现也让测试变得越来越困难。在本演讲中，我们讲讨论SLT测试的趋势和方法，并且如何用平台化方法构建SLT测试系统。

4.降低测试成本新方法——物联网蓝牙芯片产测解决之道：

在物联网时代，无线网络的要求不断推进无线标准的发展。事实上，低延迟、低功耗、高可靠性的技术要求最终推动了未来无线技术的发展方向。在本演讲中，我们将探讨最新兴的无线技术对IoT，移动和基础设施的设计和测试的影响，并且以低功耗蓝牙芯片量产测试为例，讨论针对应用于物联网芯片如何在量产测试中降低测试成本。

*议题根据地区调整

内容资源：

NI的平台化方法下，最大化利用统一的平台提升实验室和量产测试的数据关联，打通从实验室到量产测试的鸿沟！降低测试成本，加快上市时间，将不再是难题！

在统一的平台下，NI模块化的仪器和开放灵活的软件是一切的基石，极广的信号覆盖（从DC到毫米波），顶级的射频及混合信号仪器，天然的并行测试特性，这样的高性能平台已经为全球范围内多家客户带来了福祉。

而NI为量产测试而打造的STS（半导体测试系统），对接行业标准，为量产测试添砖加瓦提升测试速度！

-芯片设计工程师及部门主管

-芯片测试工程师及部门主管

-Verification 及 Qualification 部门工程师

-其他IC业内人士

欢迎您的到来！

活动主办方：美国国家仪器

协办单位：IC咖啡

中国半导体行业协会MEMS分会

苏州市集成电路行业协会