集成电路测试专场研讨会

2015/12/16 13:00 - 2015/12/16 18:00

北京市海淀区海淀西大街36#昊海楼B1(原海淀书城)

限额人数:100人

集成电路测试专场研讨会

2015/12/16 13:00 - 2015/12/16 18:00

北京市海淀区海淀西大街36#昊海楼B1(原海淀书城)

限额人数:100人

活动介绍


活动概览


《中国制造2025》明确提出“着力提高集成电路设计水平”是破解制约重点产业发展的瓶颈,而集成电路设计过程中有大量需要半导体功率器件,模拟、高速数字的测试方案。特别是在新兴半导体材料及工艺不断发展,HDMI2.0 / USB3.1 / MIPI / Coherent 等高速数字协议飞速更新的大背景下,如何更好利用完善的测试测量方案提高产品良率、缩短研发周期是所有从业者所关心的问题!
为此12.16在北京IC咖啡特举办测试解决方案专场研讨会,分享泰克及其旗下吉时利品牌拥有近70年世界先进测试测量的经验,倾力为您提供全面的集成电路测试方案。我们诚挚邀请您参会!

研讨会内容


1、高速串行系统设计的考验以及调试技巧

测量和调试是测试仪器的两大功能。这个主题针对高速串行电路的一些重要基本概念,如抖动,眼图,时钟恢复,加重,均衡,抖动容限等展开深入探讨,帮助工程师理解这些概念的含义以及它们会带来哪些影响,从而合理的运用测试仪器的工具软件来解决和分析问题。还将分享一些很有用的调试工具,帮助工程师提高调试的效率,缩短产品的开发周期。

2、最新半导体器件测试技术与Keithley解决方案分享

作为集成电路设计与制造中最基本的组成部分―半导体器件一直在不断改进以适应高性能,低功耗等要求。随着各种新型半导体材料及器件的出现,半导体器件测试也遇到了许多新挑战。

课程从直流测试测量知识入手,详解经典测试理论与设备。内容涵盖基本器件特性测试,晶圆级可靠性测试(WLR)及功率半导体测试等。总结了最新半导体器件特性测试过程中常见的几类问题,并给出相应解决方案。


活动流程



活动福利


1、 现场饮品、水果、甜点无限享用

2、 现场大奖拿回家

奖品图示:


活动报名


http://form.mikecrm.com/f.php?t=VZhxE7#rd


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活动地图

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