活动背景

传统的ATE测试系统，笨重而且资源扩展成本高，由于目前芯片更新换代非常快，对测试系统的要求也日新月异。为满足新的测试需求，传统的ATE系统往往需要高额的测试工具替换成本，但是我们的开放式PXI架构却可以让客户保有原本的投资，并且以此为基础进行优化，无需淘汰任何设备。

开放式PXI架构提供了我们所需的灵活性，借助该架构，我们能够重新配置和扩展测试平台来满足不断提高的性能需求，而且可以沿用原有的投资设备，而不需要像传统ATE系统那样，除了得淘汰旧设备之外，随着测试系统持续改良，通常还需要高成本、大规模的测试车间重新启动作业。

活动详情

在本次PXI半导体测试方案技术交流会中，您将了解到：

• PXI数字芯片测试板卡
• PXI数字芯片测试方案
• MEMS传感器芯片测试方案

活动流程

活动报名

【报名地址】：https://h5.welian.com/event/preview/d2VsaWFuXzU4NjA...

【费用】：现场报名：50元/位；在线报名/粉丝价：30元/位（包含简餐或饮品一份）（关注IC咖啡微博或微信并转发活动贴，即可享粉丝价)

【福利】：小礼品3份

主办方介绍

活动主办：北京汉通达科技有限公司

专业提供高质量的测试测量仪器设备、整体解决方案和咨询服务，作为一家有着多年测试测量从业经验的公司，我们相信测试测量的未来会要求设备与解决方案的紧密结合。这种结合更促进了测试测量系统目前对更短开发周期，更强灵活性，更低成本和更小尺寸的趋向。我们的测试技术和系统在不断变化和高要求的市场上处于领先地位。一直致力于改良性能和持续创新使我们能一如既往地为客户交付经过验证的一流测试解决方案。